Nalaganje ...
Oprema
Visoko resolucijski spektrometer XPS za tribokemijsko karakterizacijo mejnih mazalnih filmov in površin z mikrometrsko natančnim pozicioniranjem in analizo
Namembnost opreme
Rentgenska fotoelektronska spektroskopija (XPS) je metoda za analizo površin, ki zagotavlja podrobne informacije o elementarni sestavi in kemijskem stanju atomov na površini. Uporabna je za prepoznavanje oksidacije, korozije in tribokemijskih reakcij, ki se pojavljajo na površini med procesom drsenja. Prav tako je pomembna za analizo kemijske narave tribofilmov (in-situ razvite filme), ki nastanejo med procesom drsenja. Na kratko, gre za ključno orodje za razvoj novih površin, odpornih proti obrabi in trenju, ter boljših strategij mazanja.
Dostop do opreme
Skrbnik opreme:
dr. Mitjan Kalin
Oprema je dostopna v laboratoriju TINT. S predhodno najavo vsaj en teden pred izvedbo analiz, je oprema skupaj z operaterjem razpoložljiva vsem fakultetnim in zunanjim partnerjem laboratorija TINT. Kontakt: mitjan.kalin@fs.uni-lj.si.
Oprema je dostopna v laboratoriju TINT. S predhodno najavo vsaj en teden pred izvedbo analiz, je oprema skupaj z operaterjem razpoložljiva vsem fakultetnim in zunanjim partnerjem laboratorija TINT. Kontakt: mitjan.kalin@fs.uni-lj.si.
Raziskovalni projekti ARIS (1) Legenda
| št. | Evidenčna št. | Naziv | Obdobje | Vodja | Štev. publikacijŠtev. publikacij |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | L2-4474 | 1.10.2022 - 30.9.2025 | 2.020 |
Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1) Legenda
| št. | Evidenčna št. | Naziv | Obdobje | Vodja | Štev. publikacijŠtev. publikacij |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | P2-0231 | 1.1.2022 - 31.12.2027 | 2.038 |
Organizacije (1)
| št. | Evidenčna št. | Razisk. organizacija | Kraj | Matična številka | Štev. publikacijŠtev. publikacij |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | 0782 | Ljubljana | 1627031 | 31.348 |