Analizirali smo strukturo polprepustnih hologramskih folij, ki se uporabljajo z zaščito dokumentov pred ponarejanjem. S kombinacijo mikroskopskih in spektroskopskih analiznih metod smo pokazali, da je uklonska struktura zalita v polimeru, najmanjšo periodo pa je mogoče analizirati s konfokalnim optičnim mikroskopom. Lastnosti uklonjene svetlobe smo analizirali s spektrogoniometrom. Pokazali smo korelacijo med merjenimi ukloni bele svetlobe in periodo hologramske folije. Spektrogoniometrične meritve torej je mogoče uporabiti za detekcijo periode strukture polprepustnih hologramskih fonij.
COBISS.SI-ID: 4626458