1.

TEM karakterizacija oksidov na dupleks nerjavnem jeklu

Nerjavna dupleks jekla med procesom izdelave močno oksidirajo. debele oksidne plasti se odstranijo s kemijskimi postopki. Na površini pa ostane tannka oksidna plast, ki smo jo raziskali s presevno elektronsko spektroskopijo.

F.02 Pridobitev novih znanstvenih spoznanj

COBISS.SI-ID: 746922

2.

Priprava tankih silicijevih vzorcev za TEM analizo z ionskim rezanjem

Priprava vzorcev za presevno elektronsko mikroskopijo je izredno zahtevna in zamudna, zato smo uporabili napravo z ionskim rezanjem, ki je bila predkratkim razvita in jo je IMT nabavil v okviru CO-MKM

F.02 Pridobitev novih znanstvenih spoznanj

COBISS.SI-ID: 767146