V raziskovalnem delu smo poročali o rezultatih sintez večplastnega SiO2 sloja z vgrajenim pigmentom v jedru, in njihovi karakterizaciji. Raziskave so potekale v sodelovanju z raziskovalci z Univerze v Cambridgeu (Združeno kraljestvo), Kemijskega inštituta in Inštituta Jožef Stefan. Raziskovali smo vplive sinteznih parametrov, kot so količina dodanega prekurzorja in število ponovljenih stopenj sintez, na lastnosti oplaščenih delcev. Poleg predstavljenih poročanj o novih sinteznih poteh materiala, sta bila zelo pomembna dela raziskav tudi: (1) analiza poroznosti nastalega sloja, ki smo jih raziskovali z elektronsko tomografijo (EF-TEM analize) in (2) analiza s presevnim elektronskim mikroskopom visoke ločljivosti (HAAD-STEM). Metodi sta se izkazali kot zelo učinkoviti tehniki za analizo neurejenih poroznih sistemov.
V raziskovalnem delu smo poročali o rezultatih sintez večplastnega SiO2 sloja z vgrajenim pigmentom v jedru, in njihovi karakterizaciji. Raziskave so potekale v sodelovanju z raziskovalci z Univerze v Cambridgeu (Združeno kraljestvo), Kemijskega inštituta in Inštituta Jožef Stefan. Raziskovali smo vplive sinteznih parametrov, kot so količina dodanega prekurzorja in število ponovljenih stopenj sintez, na lastnosti oplaščenih delcev. Poleg predstavljenih poročanj o novih sinteznih poteh materiala, sta bila zelo pomembna dela raziskav tudi: (1) analiza poroznosti nastalega sloja, ki smo jih raziskovali z elektronsko tomografijo (EF-TEM analize) in (2) analiza s presevnim elektronskim mikroskopom visoke ločljivosti (HAAD-STEM). Metodi sta se izkazali kot zelo učinkoviti tehniki za analizo neurejenih poroznih sistemov.