Nalaganje ...
Projekti / Programi
Algoritmi za vodenje resonančnega tipala vrstičnega mikroskopa
Raziskovalna dejavnost
| Koda | Veda | Področje | Podpodročje |
|---|---|---|---|
| 2.07.00 | Tehnika | Računalništvo in informatika |
| Koda | Veda | Področje |
|---|---|---|
| P170 | Naravoslovno-matematične vede | Računalništvo, numerična analiza, sistemi, kontrola |
Ključne besede
Vrstični mikroskopija, resonančno tipalo, Liejeva geometrija,
Vrednotenje
(metodologija)
Organizacije (2) , Raziskovalci (5)
1538 Univerza v Ljubljani, Fakulteta za elektrotehniko
| št. | Evidenčna št. | Ime in priimek | Razisk. področje | Vloga | Obdobje | Štev. publikacijŠtev. publikacij |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1. | 02115 | Matematika | Raziskovalec | 2004 - 2006 | 134 |
1539 Univerza v Ljubljani, Fakulteta za računalništvo in informatiko
| št. | Evidenčna št. | Ime in priimek | Razisk. področje | Vloga | Obdobje | Štev. publikacijŠtev. publikacij |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1. | 24057 | Matematika | Raziskovalec | 2006 | 32 | |
| 2. | 08947 | Matematika | Vodja | 2004 - 2006 | 208 | |
| 3. | 12766 | Računalništvo in informatika | Raziskovalec | 2004 - 2005 | 172 | |
| 4. | 23987 | Matematika | Raziskovalec | 2004 - 2006 | 29 |
Povzetek
V zadnjih letih so se pojavila resonančna tipala kot senzorji za natančno vodenje vrstičnih mikroskopov. Raziskave kažejo, da so takšna tipala zelo uspešna. Podjetje Elatec d.o.o je doslej sodelovalo pri razvoju krmilnika za mikroskop z resonančnim tipalom, kjer pa se za vodenje uporablja analogna tehnika. Namen tega projekta je razviti algoritme za digitalno vodenje resonančnega tipala, kar bi omogočilo natančnejše in hitrejše vodenje, cenejšo proizvodnjo. Pri tem bomo površino, po kateri vodimo tipalo v začetni fazi opisali s cikli v Liejevi geometriji. Cikel je kompakten algebraičen opis sfere ali ravnine v prostoru. Lokalno izračunavanje poti po površini med cikli se prevede na preprost algebrski račun. V naslednji fazi pa bodo dobljeni algoritmi razširjeni na splošnejše površine s podrobnejšo analizo izmerjenih parametrov resonančnega tipala.