Nadgradnja sistema za karakterizacijo fotonskih integriranih vezij

Oprema je namenjena za optično in električno karakterizacija fotonskih integriranih gradnikov in raznovrstnih fotonskih integriranih vezij. Dovodin odvod svetlobe do čipa je izveden preko niza enorodovnih optičnih vlaken. Nadgrajena oprema omogoča kontaktiranje z dvema nizoma optičnih vlaken naenkrat. Električno kontaktiranje (DC in v nadgradnji tudi RF) je izvedeno preko polja namenskih igel.Laserski vir (Santec TSL 570-P, 1480 - 1640 nm), merilnik optične moči (Santec MPM-211-04-F), optični spektralni analizator (YokogawaAQ6370D), analizator polarizacije (Keysight N7781C), avt. merilni sistem s programskoo opremo (MLP SD100) in ostala dodatna oprema.

Skrbnik opreme: dr. Janez Krč
Zunanji uporabnik vzpostavi kontakt z odgovorno osebo: Janez Krč (janez.krc@fe.uni-lj.si. 01 4768 843). Odgovorna oseba ga seznani spostopkom in pravili uporabe opreme ter plačilom. Skupaj presodita, če je oprema ustrezna za načrtovane meritve. Nato odgovorna osebapoveže uporabnika s skrbnikom in upravljalcem opreme (Andraž Debevc). Dogovorijo se za možen termin uporabe.