Nalaganje ...
Oprema
XPS spektrometer za analizo površin in tankih plasti
Namembnost opreme
XPS spektrometer omogoča analizo kemične sestave površin in tankih plasti, daje informacije o oksidacijskih stanjih elementov in vrsti kemične vezi ter globinske porazdelitve elementov v zelo tankih plasteh... Opremljen je rentgenskim izvorom na Al anodo, z UV izvorom in z ionsko puško na Ar-ione ter Ar-gruče. Premer rentgenskega žarka je 5 mikrometrov.
Dostop do opreme
Skrbnik opreme:
dr. Janez Kovač
Uporaba opreme je možna za zunanje uporabnike po predhodnem dogovoru. Kontaktirati prof. dr. Janeza Kovača (janez.kovac@ijs.si, tel. 01 477 3403)
Uporaba opreme je možna za zunanje uporabnike po predhodnem dogovoru. Kontaktirati prof. dr. Janeza Kovača (janez.kovac@ijs.si, tel. 01 477 3403)
Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1) Legenda
| št. | Evidenčna št. | Naziv | Obdobje | Vodja | Štev. publikacijŠtev. publikacij |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | P2-0082 | 1.1.2022 - 31.12.2027 | 3.737 |
Organizacije (1)
| št. | Evidenčna št. | Razisk. organizacija | Kraj | Matična številka | Štev. publikacijŠtev. publikacij |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | 0106 | Ljubljana | 5051606000 | 93.831 |