Oprema
Modularen polarizacijski mikroskopski sistem z integriranim laserskim konfokalnim skeniranjem in hitrim snemanjem pri šibki svetlobi
Konfokalno slikanje fluorescentno označenih vzorcev. Najvišja stranska ločljivost, ki jo je mogoče doseči s konfokalnim skeniranjem, je približno 185 nm. Iste vzorce je mogoče istočasno slikati v transmisijskem in refleksijskem načinu brez funkcije konfokalnosti kot pri drugih običajnih mikroskopih.
Skrbnik opreme:
dr. Venkata Subba Rao Jampani
Kontaktna oseba je dr. Venkata S. R. Jampani (vsrao.jampani@ijs.si) na IJS. Meritve izvajajo člani raziskovalne skupine. Zunanji uporabniki morajo prinesti vzorce materialov in lahko sodelujejo pri meritvah.
Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1)
Legenda
Organizacije (1)
št. |
Evidenčna št. |
Razisk. organizacija |
Kraj |
Matična številka |
Štev. publikacijŠtev. publikacij |
1. |
0106 |
Institut "Jožef Stefan" |
Ljubljana |
5051606000 |
93.831 |