Nalaganje ...
Oprema
Sistem za karakterizacijo fotonskih integriranih vezij
Namembnost opreme
Oprema je namenjena za optično in električno karakterizacija fotonskih integriranih gradnikov in raznovrstnih fotonskih integriranih vezij. Dovod in odvod svetlobe do čipa je izveden preko niza enorodovnih optičnih vlaken. Električno kontaktiranje je izvedeno preko polja namenskih igel. Laserski vir (Santec TSL 570-P, 1480 - 1640 nm), merilnik optične moči (Santec MPM-211-04-F), optični spektralni analizator (Yokogawa AQ6370D), analizator polarizacije (Keysight N7781C), avt. merilni sistem s programskoo opremo (MLP SD100) in ostala dodatna oprema.
Dostop do opreme
Skrbnik opreme:
dr. Janez Krč
Zunanji uporabnik vzpostavi kontakt z odgovorno osebo: Janez Krč (janez.krc@fe.uni-lj.si. 01 4768 843). Odgovorna oseba ga seznani s postopkom, pravili uporabe opreme ter plačilom. Presodita, če je oprema ustrezna za načrtovane meritve. Nato odgovorna oseba poveže uporabnika s skrbnikom in upravljalcem opreme (Andraž Debevc). Določimo možen termin uporabe.
Zunanji uporabnik vzpostavi kontakt z odgovorno osebo: Janez Krč (janez.krc@fe.uni-lj.si. 01 4768 843). Odgovorna oseba ga seznani s postopkom, pravili uporabe opreme ter plačilom. Presodita, če je oprema ustrezna za načrtovane meritve. Nato odgovorna oseba poveže uporabnika s skrbnikom in upravljalcem opreme (Andraž Debevc). Določimo možen termin uporabe.
Organizacije (1)
| št. | Evidenčna št. | Razisk. organizacija | Kraj | Matična številka | Štev. publikacijŠtev. publikacij |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | 1538 | Ljubljana | 1626965 | 29.104 |