Visokoločljivi vrstični elektronski mikroskop FE SEM SIRION 400 NC z EDX mikroanalizatorjem

Sirion FEG je visokoločljivostni vrstični elektronski mikroskop s poljsko emisijo elektronov. Opazujemo in analiziramo lahko delce v nanometrskem območju. Sirion ima Schottky-jev izvor elektronov, kjer dobimo s poljsko emisijo elektronov curek z majhnim premerom in veliko gostoto. Rezultat je visoka ločljivost, tudi pri majhnih napetostih: 1,0 nm pri 15 kV ali 2,0 nm pri 1 kV. Mikroskop je opremljen za mikrokemično analizo z energijsko disperzijskim spektrometrom EDS Oxford INCA 350. Omogoča kvalitativno in kvantitativno mikrokemično analizo v točki in na ploskvi, ter kvalitativno linijsko analizo in ploskovno porazdelitev elementov. Analiziramo lahko elemente od berilija naprej.

Skrbnik opreme: dr. Franc Zupanič
Spletni naslov: http://www.fs.um.si/raziskovanje/raziskovalna-oprema/
Uporaba je možna po pedhodnem naročilu in ne vključuje stroškov materiela.