Integrirani sistem konfokalnega Ramanskega mikroskopa in mikroskopa na atomsko silo XploRA PLUS-OmegaScope

Integrirani sistem konfokalnega Ramanskega mikroskopa in mikroskopa na atomsko silo omogoča izvajanje različnih načinov mikroskopske analize vzorca. Konfokalni mikroskop omogoča opazovanje in zajem vidne mikroskopske slike. Vira laserske svetlobe (532 nm in 785 nm), pripadajoči optični elementi in detektor povratno sipane Raman svetlobe omogočajo točkovne meritve lastnosti na principu Raman spektroskopije in fotoluminiscenčne spektroskopije v dveh in treh dimenzijah, kar omogoča mikroskopsko Ramansko mapiranje površine in volumna vzorcev na zraku (površine in prerezi razsutih prostih delcev, granul, pelet, tablet, kapsul, filmov, laminatov, ekstrudatov, itd.) ter v tekočem mediju (vlakna, delci, celice, tkiva, itd.).

Skrbnik opreme: dr. Zoran Lavrič
Spletni naslov: http://www.ffa.uni-lj.si/raziskave/raziskovalna-oprema/integrirani-sistem-konfokalnega-ramanskega-mikroskopa-in-mikroskopa-na-atomsko-silo-xplora-plus-omegascope
Javni dostop do opreme ni predviden. V vsakem primeru se je za eventualni dostop do opreme potrebno dogovoriti s skrbnikom opreme, ki mora biti zaradi specifičnosti aparatur, navzoč ves čas njihove uporabe.