Oprema
Okoljski vrstični elektronski mikroskop (ESEM) z veliko komoro, sistemom za analizo morfologije površin in EDX sistemom
Okoljski vrstični elektronski mikroskop (ESEM) omogoča morfološko in kemijsko karakterizacijo različnih anorganskih in organskih materialov. Mikroskop je opremljen z veliko komoro za vzorce, sistemom EDX in programsko opremo za 3D predstavitev morfologije površine. Omogoča tudi opazovanje vzorcev pri nizkem vakuumu (do 4000 Pa) in je kot tak primeren za opazovanje vlažnih vzorcev.
Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1)
Legenda
Organizacije (1)
št. |
Evidenčna št. |
Razisk. organizacija |
Kraj |
Matična številka |
Štev. publikacijŠtev. publikacij |
1. |
0106 |
Institut "Jožef Stefan" |
Ljubljana |
5051606000 |
93.831 |