Oprema vir: ARIS

Visokoločljivostni vrstični elektronski mikroskop s FEG izvorom, EDX sistemom in STEM detektorjem

Uredi
Namembnost opreme
Visokoločljivostni vrstični elektronski mikroskop FEG SEM omogoča morfološko karakterizacijo različnih anorganskih in organskih materialov na nanometrskem nivoju, tudi pri zelo nizkih vzbujevalnih napetostih. Poleg tega omogoča mikroskop določevanje kemijske sestave, saj je mikroskop opremljen s sistemom EDX. Novo kvaliteto pa predstavlja detektor za preiskave vzorcev v presevnem načinu.
Dostop do opreme
Skrbnik opreme: dr. Miran Čeh
Spletni naslov: https://www.ijs.si/ijsw/Znotraj%20hi%C5%A1e/Desno?action=AttachFile&do=get&tar get=ARRS_Evidenca_opreme_2021.xlsx
Vrstični elektronski mikroskop v okviru Centra za elektronsko mikroskopijo in mikroanalizo (CEMM) je dostopen na podlagi on-line rezervacijskega sistem vsem tistim operaterjem IJS, ki so uspešno opravili tečaj, ki ga brezplačno organizira in izvaja kader CEMM. Za tiste odseke IJS, druge raziskovalne in izobraževalne institucije in industrijske partnerje, ki nimajo svojih operaterjev, izvede zahtevane analize kader CEMM.
Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1) Legenda
št. Evidenčna št. Naziv Obdobje Vodja Štev. publikacij
1.  I0-0005  Infrastrukturni program Instituta Jožef Stefan  1.1.2015 - 31.12.2021  dr. Miran Čeh  4.505 
Organizacije (1)
št. Evidenčna št. Razisk. organizacija Kraj Matična številka Štev. publikacij
1.  0106  Institut "Jožef Stefan"  Ljubljana  5051606000  93.831 
Zahtevana je potrditev
Zgodovina ogledov
Priljubljeno